首頁 ﹥ 商品介紹 > 分析量測設備

1.Capable of Measuring Steep Angles.
2.High Auto Focus Repeatability.
3.Diameterof a Minimal Probe.
4.Wide Measuring Range.
5.High Resolution.

1.採用超強X光3D透視檢查,並且可搭配CT功能.
2.內建電動X-Y載台,電動變焦功能,電動基板傾斜功能.
3.機台外型輕巧,不占用空間,方便使用.
4.以電腦進行資料處理,龐大數據亦能輕鬆處理.
5.品質穩定,價格實惠.

非球面鏡片量測及形狀評估
表面粗糙度測量
間距量測
晶圓Pattern尺寸量測
產品表面瑕疵及缺陷量測

Applications:
玻璃板的相位差分布
3D用薄膜量測
樹脂成型品測量
Lens雙折射分布的定量分析
光纖剖面分析
高分子球晶量測

4" 6" 8" 12" Wafer Probe Station
LCD Probe Station

非接觸式影像自動拍照量測系統
Inspection Microscope

Semiconductor Failure Analysis
LCD Repair
Micromachining
Resist Trimming
Marking and Cutting